精确的表面结构表征是表面科学研究的基础. 扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是常见的表面结构表征工具. 然而, STM在结构表征中不仅不一定能通过局域态密度起伏确认原子位置, 还只能用于导电样品. 而qPlus型非接触AFM ...